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半导体引线框架智能全检设备
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作品描述
本产品针对目前引线框架检测技术存在的不足,结合前期基础开展基于2D/3D融合的引线框架智能全检关键技术与装备研究,重点攻克缺陷等级评价与类别判定、检测模型迁移适配、多角度差分成像光路等关键技术,是一款能够实现精密测量、缺陷分类及缺陷等级判定的检测设备。
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